测试范围

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• 电子电器零组件、自动化零部件、机械零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业及国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化

测试目的

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• 冷热冲击试验主要验证样品在高温和低温快速变化条件下使用和储存的状况，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验

方法标准（部分）

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• GB/T2423.22-2012 试验N：温度变化
• GB-T10592-2008 高低温试验箱技术条件
• GJB150.3-1986 军用设备环境试验方法--高温试验
• GJB360A-96 电子及电气元件试验方法

测试费用

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• 冷热冲击测试的价格是按测试时长来报价，不同大小的产品对应使用不同大小的温度箱，不同大小的温度箱有不同的测试价格，按照时长计算。另外测试时间短会涉及基本的开机费