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HAST测试应用范围
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HAST测试即高加速应力测试、高压蒸煮试验,是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式,实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验,用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。
hast测试(高压蒸煮试验/高加速应力测试)实验目的
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- 为了提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。
HAST高加速应力测试实验类别
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- 1. 低温步进应力试验
- 2. 高温步进应力试验
- 3. 快速热循环试验
- 4. 振动步进应力试验
- 5. 综合应力试验
- 6. 工作应力测试
试验参考标准(部分)
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- 1、IEC 60068-2-66:1994 Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat,steady state(unsaturated pressurized vapour)
- 2、GB/T 2423.40-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
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